SWIR相机：见不可见
在红外光谱范围内具有高精度
SWIR（短波红外）
SWIR技术
堡盟CX.XC系列SWIR工业相机是一款带GigE Vision千兆网接口的工业级短波红外相机。它集成高灵敏度Sony SenSWIR InGaAs传感器，图像采集范围覆盖400-1700 nm波段的可见光和不可见光。
因此，该相机为食品、半导体和制药等对精度要求较高的行业开启了全新的应用天地。
SWIR相机应用实例
可见光（左） | SWIR 1300 nm（右）：
检测咖啡豆中是否有人眼几乎不可见的深色异物颗粒（小石子）
图片来源：索尼半导体解决方案集团
可见光（左） | SWIR 1,450 nm（右）：
检测苹果等水果是否有人眼不可见的损伤
图片来源：索尼半导体解决方案集团
可见光（左） | SWIR 1,550 nm（右）：
在晶圆生产的定位应用中检测人眼不可见的对位特征
图片来源：索尼半导体解决方案集团
应用领域
SWIR（短波红外）技术
食品工业
示例：可靠检测和识别损伤（如由压力、腐烂造成的损伤），以提高质量检测效率
半导体行业
示例：穿过多层结构对晶圆进行高精度定位和检测
制药行业
示例：检测和识别各种包装（如玻璃或塑料）中的杂质和物质
缺陷像素校正
堡盟如何在SWIR应用中尽可能避免缺陷像素
由于技术原因，InGaAs传感器的缺陷像素明显多于CMOS硅传感器。
如上所示：未进行像素校正的图像（左图） | 进行了静态和动态缺陷像素校正的图像（左图）
（Sony IMX990图像采集波段：1350 nm，适用的环境温度：图像传感器的典型环境温度为35°C）
为什么要尽可能避免缺陷像素？
这样做对确保出色的图像质量和图像处理系统的稳定运行至关重要。
使用配备InGaAS传感器的相机时需要注意什么？
为了尽可能避免缺陷像素，图像传感器必须保持在低温状态。
堡盟的解决方案
CX.SWIR.XC相机不仅采用出众的工业级散热设计，还自带与传感器配套的静态和动态缺陷像素校正功能。它还带集成冷却管，以进一步降低图像传感器的温度。
1.尽可能避免缺陷像素
传感器的温度必须尽可能低，以显著减少缺陷像素并保持较小的暗电流。
功耗非常低（12 V电压下为2.1 W）
36 x 36 mm方形外壳
外壳中内嵌专利散热片，确保有效散热
2.附带缺陷像素校正功能
像素校正功能最好是集成在相机固件中。
缺陷像素校正有静态和动态两种方式可选
大多数缺陷像素可静态校正
动态校正适用于不同设置或条件下出现的“缺陷像素”
3.带集成冷却管
由于集成了冷却管，图像数据精度更高，测量周期时间更短。
通过降低工作温度，可进一步减少缺陷像素
防止热量进入光学元件
大大降低像素漂移
上电后即可快速进行高精度测量
特别适合安装在狭窄空间